技術(shù)指標：
（1）寬角掃描（俯仰向：±60°和方位向 0～360°）下陣列稀布優(yōu)化，單
元節省≥25%，副瓣電平≤-20dB；
（2）寬帶范圍內陣列稀布綜合與低副瓣優(yōu)化，單元節省≥20%；
（3）大規模稀布陣列波束賦形優(yōu)化（平頂/余割波束、多零陷等）。
創(chuàng ) 新 點(diǎn)：
首次提出基于分塊矩陣 SVD 加速的大規模陣列稀布綜合與優(yōu)化設計方法，將
酉矩陣束方法推廣至陣列稀布優(yōu)化和寬帶寬角掃描應用場(chǎng)景，結合空間映射、高
效全波分析方法（特征模理論、區域分集、多層快速多極子）及并行技術(shù)，自主
開(kāi)發(fā)出一套面向用戶(hù)的寬帶大規模陣列快速分析與稀布優(yōu)化軟件。
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實(shí)驗檢測
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寬帶寬角掃描大規模陣列天線(xiàn)快速分析與稀布優(yōu)化技術(shù)
類(lèi)型：專(zhuān)利成熟度：正在研發(fā)專(zhuān)利號/型號：交易方式：簡(jiǎn)介： 成果簡(jiǎn)介：本成果提出了基于酉矩陣束的寬帶寬角掃描大規模陣列稀布綜合與優(yōu)化設計方法，能夠有效解決有限平臺空間下載荷、天線(xiàn)布局、成本等的兼容問(wèn)題，實(shí)現系統復雜度降低和成本節省。 -
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